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当分析的对象是电子元器件时,首先需要测量失效元件的电 参数。电参数的测定包括功能测试、非功能测试、变条件测试、 检漏等。在做电参数测试时应特别注意,一定要防止由于测试而 引入新的失效机制。从而给失效分析带来困难,甚至无法进行。必须注意,失效晶体管本身已比较脆弱,极易损坏,因此在测试 时要比在正常测试时更加注意。进行电参数测定所需仪器和设备根据测试的需要而定。

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